휴대폰 돔 검사기

국내 최초 단층촬영(CT) 시스템 개발 국내 최초 자동검사(AT) 시스템 개발 업계 최고의 안정성 자동화 기술 17년의 KNOW-HOW 적용가능 PCB size의 최대화 고속, 고효율의 제품검사 실현 삼성 전자에서 10여 년간 축적된 반도체 X-ray inspection 기술과 자동화 기술을 통한최고의이물검출기를 개발하였습니다.   >제품소개 FSCAN-3000V는 휴대폰 Key Pad DOME검사의 In-line 실시간 자동검사 장비로서 제조 공정상 DOME Sheet내에 결합 삽입과 이물 추가로 나타나는 최종 핸드폰 완제품에서의 불량을 줄여 품질과 생산 수율의 극대화를 이루고자 함이며 이를 위해서 Sheet내의 DOME를 검사하는 최적화된 다양한 기능들로 최적화되어 있고 DOME검사 이외에도 다양한 응용 검사가 가능하도록 구성되어 있습니다.   > 휴대폰 Key Pad DOME 검사시스템의 특징 ㆍ X-Ray 비전 장비 연동 In-line 자동검사 구축 ㆍ 매뉴얼 제품 투입 자동검사 가능 ㆍ X-Ray 비전 장비 별도 검사 가능 ㆍ X-Ray 비전 검사결과 및 장비상태 실시간 모니터링 ㆍ 모델별 편리한 USER 설정 기능 ㆍ 결과 리포트 기능 > 적용 대상 ㆍ DOME 개별 위치 편차 검사 ㆍ 역 DOME 검사 ㆍ 인쇄 불량 검사 ㆍ DOME에 붙어 있는 이물 검사 ㆍ 형태에 따른 패턴 검사

X-ray 시스템과 연결

검사 유형

Specifications       Conveyor Width 200~250mm Work Length Various Conveyor Speed Max. 30 Meter/Minute Inspection Speed Max. 2초/1Sheet(150mm*230mm) 기준 Min. Detection Size 0.2 X 0.2mm Control computer/Monitor Pentium-4 17" Touch Screen Operation System Windows 2000 Professional PC Controller Size 260(W) * 172(H) * 407(D) Product Management Daily/Month/Model Product Capacity Analysis Teaching 방식 Auto Teaching, Manual teaching Image Management Image Save/ Print/ Analysis(Defect Size measurement) 조명 사이즈 전면조명 Width 300mm, 후면조명 Width 300mm Camera 4K(4096 Bytes) 2 EA (전면검사, 후면검사) 검사 정도 이물(±200um), 역돔(99.9%), 인쇄불량(99.9%), 편차 등

더많은제품정보 및 문의하기 ☜